Hersteller Produktnummer:
SN74ABTH182646APM
Product Overview
Hersteller:
Texas Instruments
Teilenummer:
SN74ABTH182646APM-DG
Beschreibung:
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Detaillierte Beschreibung:
Scan Test Device With Transceivers And Registers IC 64-LQFP (10x10)
Inventar:
1696399
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SN74ABTH182646APM Technische Spezifikationen
Kategorie
Logik, Speziallogik
Hersteller
Texas Instruments
Verpackung
Tray
Reihe
74ABTH
Produktstatus
Active
Logik-Typ
Scan Test Device With Transceivers And Registers
Versorgungsspannung
4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits
18
Betriebstemperatur
-40°C ~ 85°C
Art der Montage
Surface Mount
Paket / Koffer
64-LQFP
Gerätepaket für Lieferanten
64-LQFP (10x10)
Basis-Produktnummer
74ABTH182646
Datenblatt & Dokumente
Datenblätter
Zusätzliche Informationen
Standard-Paket
160
Andere Namen
-296-4133-DG
-74ABTH182646APMG4-NDR
74ABTH182646APMG4-DG
74ABTH182646APMG4
2156-SN74ABTH182646APM
-296-4133
TEXTISSN74ABTH182646APM
296-4133-NDR
-SN74ABTH182646APM-NDR
-74ABTH182646APMG4
296-4133
Umwelt- und Exportklassifizierung
RoHS-Status
ROHS3 Compliant
Feuchtigkeitsempfindlichkeitsstufe (MSL)
3 (168 Hours)
REACH-Status
REACH Unaffected
ECCN (Englisch)
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI-Zertifizierung
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