Hersteller Produktnummer:
SN74BCT8240ANT
Product Overview
Hersteller:
Texas Instruments
Teilenummer:
SN74BCT8240ANT-DG
Beschreibung:
IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
Detaillierte Beschreibung:
Scan Test Device with Inverting Buffers IC 24-PDIP
Inventar:
1575848
Angebot anfordern
Menge
Mindestens 1
Mindestens 1
(*) ist erforderlich
Wir werden uns innerhalb von 24 Stunden bei Ihnen melden
Wir werden uns innerhalb von 24 Stunden bei Ihnen melden
EINREICHEN
SN74BCT8240ANT Technische Spezifikationen
Kategorie
Logik, Speziallogik
Hersteller
Texas Instruments
Verpackung
-
Reihe
74BCT
Produktstatus
Obsolete
Logik-Typ
Scan Test Device with Inverting Buffers
Versorgungsspannung
4.5V ~ 5.5V
Anzahl der Bits
8
Betriebstemperatur
0°C ~ 70°C
Art der Montage
Through Hole
Paket / Koffer
24-DIP (0.300", 7.62mm)
Gerätepaket für Lieferanten
24-PDIP
Basis-Produktnummer
74BCT8240
Datenblatt & Dokumente
Datenblätter
HTML-Datenblatt
Zusätzliche Informationen
Standard-Paket
60
Andere Namen
TEXTISSN74BCT8240ANT
2156-SN74BCT8240ANT-TI
-SN74BCT8240ANT-NDR
Umwelt- und Exportklassifizierung
RoHS-Status
ROHS3 Compliant
Feuchtigkeitsempfindlichkeitsstufe (MSL)
1 (Unlimited)
REACH-Status
REACH Unaffected
ECCN (Englisch)
EAR99
HTSUS
8542.39.0001
DIGI-Zertifizierung
Ähnliche Produkte
SN74BCT8245ADWR
IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
SY100EL16VAZC TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC
SY100EL16VZC-TR
IC RCVR DIFF 5V/3.3V 8-SOIC
